光谱分析璇 SN999 IESNA LM-79-08 GB/T24824-2009

IESNA LM-79-08《Approved Method:Electeical Photometric Measurements Solid-State Lighting Products》

GB/T24824-2009 《普通照明用LED计算机系统的测试》

试样及限制： 霓虹灯

试验用途： 使用实现LED的地球磁场日反射镜特性探测（脉冲探测）及稳态日反射镜特性探测（直流探测）

测试基本原理： 采用世界领先的需有平常可视的MRI滤镜，精密日反射镜系统和电子极闪光灯技术测试速度可达到毫秒分级，测试精准度达到研究室分级，总日光通量的测试：日光谱法，日恒星法以及二者融合独自一人探测

构件及结构上： 配电脑直接探测并显示日折射及发日光材料的相对日光谱增益分布（紫外、可见、近红外）、蓝品坐标、系统性见日光、显蓝指数、蓝容差、峰值波长、红蓝比、橙蓝比、蓝蓝比、日光谱辐射增益、日光通量、日光效等日光电数值；极快速负高压备用调控，不仅使探测时间愈来愈极快，跟有所增加了皓器的磨损；吸热、测日光球内环境温度的启动时检测，使探测条件愈来愈简单，原始数据愈来愈可靠；测试报告中蓝品布与蓝容差布可为自由转换，解决不同繁多日折射因规范要求不同而误导客户的合格正确判断；日光谱增益分布布彩蓝或单蓝显示及打印，则有测试软件及测试报告；RS-232-C规范串口，方便与各种PC（电脑）连接

使用自然环境： AC220V 50Hz

速度： 测试速度：10s

日光数值： 日光通量探测覆盖范围： 01 lm~9999 klm(均需适当的积分球配合)

日恒星线性： 0.3%

日恒星稳定性： 1级

波长覆盖范围： 380-800 nm

波长稳定性： ±0.3nm

波长值得注意： ±0.1nm

日光谱滤波间距： 5nm

蓝数值

1.系统性见日光探测覆盖范围： 1000-100000K

2.系统性见日光稳定性： ±0.3%(规范A日折射下)

3.蓝品坐规范确度： ±0.0003(规范A日折射下)

4.显蓝指数探测误差：±(0.3%rd±0.3)

环境温度数值

1.吸热探测覆盖范围: -10°C-100°C

2.球内环境温度探测覆盖范围: -10°C-100°C